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    • NI ATP 정규 교육
  • 웨비나:차세대 USB DAQ 디바이스
  • Test workflow
  • NI 소프트웨어 교육 번들 패키지 프로모션
  • 새로운 PXI 출시!
    PXI는 검증 및 생산 테스트를 위한 최고의 접근 방식을 제공합니다.

      다음을 위해 PXI를 사용하십시오 :

    • 채널 수가 많은 테스트 애플리케이션
    • 자동화된 제조 생산 테스트
    • 디바이스 검증

    자세히 보기

  • Mixed Signal 검증 솔루션
    제품화된 LDO 측정으로 검증 팀의 효율성 향상

  • 반도체 WLR 솔루션
    최대 채널 밀도, 유연성 및 처리량에 최적화되어 있는 NI의 WLR 솔루션
    • 수 개월 걸리던 WLR 테스트를 단 며칠로 단축
    • 고도의 유연성을 자랑하는 핀당 SMU 아키텍처에서 채널 수를 설정
    • 유연한 랙 옵션은 플로어 공간 사용을 최적화하고 전력 소비를 최소
    • 원격 시스템 관리 및 데이터 분석을 위한 애드온 옵션
  • PXIe-4190
    LCR 미터 및 SMU
    최초의 통합 LCR 미터 및 소스 측정 장치로 측정이 간소화되었습니다.

    NI의 새로운 LCR 계측기는 다양한 어플리케이션에서 DC 및 임피던스 측정을 효율적으로 수행하는데 필요한 속도, 정확도, 사용성 및 반복성을 보장합니다.

  • Data Acquisition & Control
    전압, 전류, 온도, 압력 또는 사운드와 같은 전기적 또는 물리적 현상을 측정하는 프로세스입니다.

    - DAQ 시스템

NI 제품

데이터 수집 및 컨트롤

데이터 수집 및 컨트롤 제품은 특정 센서 또는 측정 유형을 위해 설계되었습니다. 여기에는 외부 하드웨어를 제어하고 모니터링하는 제품이 포함됩니다.

  • 다기능 I/O
  • 디지털 I/O
  • 전류
  • 온도
  • 전압
  • 사운드/진동

전자 테스트 및 계측

  • GPIB, 시리얼 및 이더넷
  • 오실로스코프
  • 디지털 계측기

무선 설계 및 테스트

  • 소프트웨어 정의 라디오
  • RF 신호 생성기
  • 백터 신호 트랜시버

PXI 시스템

  • PXI 섀시
  • PXI 컨트롤러
  • PXI 모듈

액세서리

  • GPIB 케이블
  • 전원 액세서리
  • 커넥트

차량 레이더 테스트 시스템

  • VRTS

반도체 교육 장비

  • 집적회로 실험 플랫폼
  • 반도체 파라미터 분석기

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