NFC/전자결제/무선충전 테스트

MP300 TC3

MP300 TC3

접촉식 스마트 카드 및 접촉 기반 보안 요소를 위한 고급 테스터

ISO 7816, SWP / HCI, USB 2.0, USB-IC 및 I2C 프로토콜 지원. 물리적 및 프로토콜 매개 변수 측면에서 엄청난 유연성. 테스터는 EMVCo에서 L1 형식 승인을, GCF / PTCRB에서 SWP를 인증했습니다. MP300 TC3는 접촉식 스마트 카드 및 보안 요소 테스트를 위한 전 세계 기준입니다. 전 세계 수백 대에 배송되는 수 많은 테스트 기능 덕분에 이 도구는 구성 요소 특성화 및 검증 실험실에서 형식 승인을위한 이상적인 동반자입니다. MP300 TC3의 주요 기능은 다음과 같습니다.

주요 특징

  • ISO 7816, SWP / HCI, I2C, SPI, USB 2.0, USB-IC 프로토콜에 따른 터미널 시뮬레이션
  • ID-1 스마트 카드, SIM 및 U-SIM 구성 요소, eSIM 및 M2M 모듈 테스트 가능
  • ISO 7816 (ISO 10373-3) 테스트 사양의 요구 사항과 완벽하게 호환
  • ETSI TS 102613 및 TS 102622 사양을 완벽하게 지원
  • 자신과 테스트중인 장치 간의 통신을 기록하고 스파이 데이터를 그래픽으로 표시합니다.
  • 외부 스파이 모드도 사용 가능
  • 물리적 및 프로토콜 매개 변수의 커스터마이징의 매우 깊은 가능성
  • 다양한 측정 기능 및 테스트 구현 : 전류, 전압, 개방 / 단락, 정전 용량, ...
  • 다양한 테스트 표준을 위한 참조 테스터 : EMVCo L1 전기 및 프로토콜, ISO 7816-3, ETSI TS 102613 및 TS 102622

사용 분야

MP300 TC3은 일반적으로 다음과 같은 분야에서 사용됩니다 :

  • 접촉식 스마트카드 OS의 디버그
  • EMVCo 및 SWP/HCI 규격에 따는 형식 승인
  • 접점 구성요소의 특성화
  • 품질 검사
  • Supported Protocols

    • ISO/IEC 7816-3
      • - T=0 and T=1 protocols : 100% implemented, managed by Firmware and FPGA, accelerated by hardware
    • SWP/HCI (ETSI TS 102.613 and ETSI TS 102.622)
      • - SWP transmission : Assisted by hardware
      • - LLC layers support : ACT, CLT, S-HDLC realised by firmware
    • USB-IC
    • USB 2.0
      • - Available speeds : Low speed, full speed
      • - Classes : ISO/IEC 7816-12, mass storage, custom protocols
    • I2C
      • modes supported :
      • - Standard mode
      • - Fast mode
      • - Fast mode plus
      • - Supports clock stretching, multi master arbitration, anti tearing
      • - Programmable parameters :
        • + Setup time, hold time, start and stop condition
        • + Clock high and low states
        • + Address width (7 and 10 bits)
        • + Nack condition
    • SPI
      • - Data width : 8 bits
      • - programmable parameters :
        • + phase, polarity
        • + anti tearing
    • Synchronous chips
      • - Support of all kind of memory components (SLE 46xx, T2G, …)
    • Raw mode
      • - Implementation of custom protocols and support of out of standard chips

    Spy feature

    • Accuracy : 20 ns
    • Signals displayed :
      • – All 8 pins (C1 C2 C3 C4 C6 C7 C8)
      • – SWP S1, S2
      • – USB
      • – Bytes
      • – Frames
      • – Trigger states
    • I2C start and stop conditions, ACK/NACK, SDA/SCL transitions
    • SPI SCK, MOSI, LISO, SS transitions
    • Analog information (current, voltage measurement)
  • Programmable Parameters

    Physical parameters

    • Voltages
      • - Vcc : Adjustable from 0V to 10V
      • - Vol/Voh :
        • + 0V to 5V / 1V to 7V
        • + All pins can be adjusted independently
      • - Vil/Vih : 0.2V to 5V / 1V to 6.8V

    Clock frequency

    • - ISO 7816 clock :
      • + Adjustable from 10kHz to 10Mhz
      • + Duty cycle : can be adjusted from 30% to 70%
    • - SPI clock :
    • - Adjustable up to 25MHz
    • - Pin states
      • + All pins can be managed separately
    • ISO 7816 communication parameters
      • - Adjustable parameters : All normative timings (WWT, BWT, CWT, …), parity, pull-up resistor
    • SWP communication parameters

      Available baudrates :

      • – Any baudrate from 49kbps to 1,9Mbps
      • – SWP duty cycle adjustable from 0% to 50%
      • – Adjustable parameters : Activation time, P2, P3 parameters, current detection level
    • USB-IC parameters
      • – Voltage classes supported : 1.8V and 3.0V

    Available Tests

    • Electrical tests
      • – Open/short test (on all contacts,current forced can be adjusted)
      • – Leakage current (all contacts)
      • – Voltage measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
      • – Current measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
      • – Parametric tests (V=f(I), I=f(V))
      • – SWP specific measurement (statistics on SWP S2 current values)
    • Logical tests
      • – Anti tearing (checks the chip’s integrity against accidental removing from the reader)
      • – All timing measurement
      • – ISO 7816 and SWP concurrent I/O testing : send frames in ISO and SWP simultaneously

누비콤

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