RF 프론트엔드 검증 솔루션

NI의 RF 프론트엔드 검증 레퍼런스 아키텍처는 5G 및 Wi-Fi 6와 같은 고성능 애플리케이션을 위한 광대역 RF 전력 증폭기(PA) 검증 워크플로를 간소화합니다.

주요 기능 및 장점:

• S-파라미터 디임베딩(S-Parameter De-embedding)을 활용한 경로 손실(Path Loss) 및 픽스처 보정으로 정확한 측정 수행
• Focus Microwave 튜너를 이용한 로드풀(Load Pull) 측정을 통해 PA 성능을 심층 분석
• 전력 센서 기반 파워 서보(Power Leveling)를 통한 정밀한 출력 전력 설정

새로운 기능을 활용하여 다음을 수행할 수 있습니다.

• RFIC Test Software를 통해 PA 검증 벤치를 제어하고 측정 결과를 직관적으로 시각화
• 전력, 주파수, 임피던스 스윕을 손쉽게 구성하고, Focus Microwave 튜너를 이용하여 50Ω 이외의 조건에서 PA 성능 검증
• 최신 디지털 프리디스토션(DPD) 선형화 알고리즘 실행 및 선형화 전후 성능 비교
• 이득(Gain), AM/AM, AM/PM, EVM, ACLR, PAE, 감마(Gamma), VSWR 등의 상세 분석 결과 제공
• Automation Wizard 및 다양한 사전 구축 코드 모듈과 테스트 시퀀스를 활용한 자동화 검증 수행
• S2P 디임베딩을 통한 경로 손실 보정
• 전력 센서 기반 출력 전력 서보를 통한 정밀한 출력 전력 제어

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NI Wafer-Level Reliability Software 21.0

NI의 웨이퍼 레벨 신뢰성(Wafer-Level Reliability, WLR) 솔루션은 반도체 디바이스 및 공정의 신뢰성 평가를 위한 데이터 수집을 최적화할 수 있도록 확장 가능하고 유연한 소프트웨어 및 하드웨어 아키텍처를 제공합니다. 또한 미래의 테스트 요구사항까지 고려한 구조를 통해 장기적인 시스템 활용이 가능합니다.

주요 기능 및 장점

• 병렬 SMU를 활용하여 사용자 정의 소프트웨어 환경에서 신뢰성 데이터 수집 속도를 5배에서 10배까지 향상
• LabVIEW 기반 WLR 예제를 통해 SMU 및 소프트웨어 기능을 손쉽게 평가 가능
• 패키지 디바이스용 WLR 데모 박스 제공
• 참조 예제를 활용하여 스트레스 테스트의 설정, 실행 및 결과 분석을 간편하게 수행
• 핀당 SMU(SMU-per-Pin) 아키텍처를 기반으로 높은 동기화 성능과 유연한 시스템 확장성 제공
• LabVIEW 기반 WLR 21.0 API를 활용한 사용자 정의 신뢰성 평가 알고리즘 개발 지원
• 고객과의 성능 비교(Benchmark) 및 평가 작업을 더욱 효율적으로 수행 가능

제공되는 LabVIEW 기반 WLR 예제

• TDDB(Time-Dependent Dielectric Breakdown, 시간 의존성 절연막 파괴)
• Hot Carrier(핫 캐리어 열화)
• BTI(Bias Temperature Instability, 바이어스 온도 불안정성)

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